产品展示

面向工业电子制造、通信及信息技术、教育科研、微电子、新能源、生物医药、节能环保等行业和领域的客户，提供增值销售、科技租赁、系统集成、技术服务等一站式综合服务。

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霍尔效应测试系统

型　　号：霍尔效应测试系统
名　　称：霍尔效应测试系统
品　　牌：吉时利专区
分　　类：半导体测试设备 > 霍尔效应测试系统
简　　述：

霍尔效应测试系统是集成Keithley2400/2600系列高精度源表和Semishare polaris高低温平台，采用范德堡尔法则设计，应用于高精度的测量半导体材料的载流子类型（P型/N型）、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数，能够适用于Si、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN等半导体材料。

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产品详情

霍尔效应测试系统

产品概要

霍尔效应测试系统是集成Keithley2400/2600系列高精度源表和Semishare polaris高低温平台，采用范德堡尔法则设计，应用于高精度的测量半导体材料的载流子类型（P型/N型）、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数，能够适用于Si、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN等半导体材料。

基本信息

产品型号HALL工作环境Windows98/ME/2000/NT/XP环境下
电力需求/操控方式/
产品尺寸/设备重量/

应用方向

霍尔效应测试系统是一款应用于各种半导体材料高精度测量的软件集成系统。

技术特点

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全国服务热线：

0755-89484966

服务时间：

工作日 9:00-17:30

开云手机地址：广东省深圳市龙华区中梅路光浩国际大厦A 座25E

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